專業廠家·品質保障
0755-86130168
新聞動態 行業動態
常見問題
半導體車間用一種遠程粒子計數器監測裝置在半導體器件晶圓的制造過程中,其易受外來物、灰塵粒子、金屬離子等外來物的影響而破壞表面結構、電子特性等的產品特點決定了其制造過程必須有潔凈度的要求,而經過長期的實踐分析,我們發現在半導體晶圓測試的過程中,測試間也必須置于潔凈室中,潔凈度的控制也同樣重要。潔凈室的...
Copyright ? 2005-2021 深圳市賽納威環境科技有限公司 版權所有 粵ICP備15029979號 XML地圖 www.pradcomws.com